加速壽命試驗的目的是提高環(huán)境應力(如:溫度)與工作應力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷.等)，加快試驗過(guò)程，縮短產(chǎn)品或系統的壽命試驗時(shí)間。
用于調查分析何時(shí)出現電子元器件，和機械零件的摩耗和使用壽命的問(wèn)題，使用壽命的故障分布函數呈什么樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進(jìn)行的試驗
Hast試驗箱是在非飽和濕度(65%~100%RH可調)、溫度、壓力等條件下，檢測產(chǎn)品或材料可靠性耐高溫高濕能力的儀器設備。 一般用來(lái)進(jìn)行材料吸濕率試驗、高壓蒸煮試驗等，若待測品是半導體，則用來(lái)測試半導體封裝之抗濕氣能力，待測品被放置嚴苛的溫濕度以及壓力環(huán)境下測試，如果半導體封裝的不好，濕氣會(huì )沿者膠體或膠體與導線(xiàn)架之接口滲入封裝體之中，常見(jiàn)的故裝原因:爆米花效應、動(dòng)金屬化區域腐蝕造成之斷路、封裝體引腳間因污染造成之短路等相關(guān)問(wèn)題。
Hast試驗箱
上面我們知道了什么是Hast試驗箱，那么我們在使用時(shí)進(jìn)行可靠性指標分配時(shí)的注意事項有哪些呢?下面讓我們一起來(lái)了解一下吧。
(1)Hast試驗箱可靠性指標分配是一項嚴肅的工作，當設備系統或分系統的指標確定以后就要認真對待。凡是通過(guò)努力能夠實(shí)現的指標，各分系統都要去努力實(shí)現，應該保證本分系統的可靠性達到或高于所分配的指標。系統總體可靠性負責人要善于昕取各分系統負責人的意見(jiàn)。但是，還須嚴格執行局部服從全局的原則。
(2)在指標分配的基礎上，各分系統不要局限于分配的指標，要大膽地采用新技術(shù)和新材料，要想方設法改進(jìn)系統的可靠性。
(3)在設備研制過(guò)程中，可靠性分配工作不止進(jìn)行一次。隨著(zhù)研制工作的不斷深入，研制時(shí)間的向前推移，技術(shù)上的不斷改進(jìn)等，分配給各分系統的可靠性指標要適時(shí)地進(jìn)行調整，使指標分配得更合理，更切合使用要求。由于某些產(chǎn)品的研制時(shí)間比較長(cháng)，如果分配給各分系統的指標搞“終身制"的話(huà)，將使系統的可靠性指標落后于技術(shù)發(fā)展及使用要求而變得毫無(wú)價(jià)值。
(4)影響設備可靠性的因素很多，進(jìn)行可靠性分配時(shí)，要考慮那些主要的因素，不必面面俱到。
(5)可靠性分配是基于以下基本假設進(jìn)行的：
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?、诋斆總€(gè)分系統都正常工作，在小于任務(wù)時(shí)間的時(shí)間內，認為失效率為零，即不發(fā)生失效，在零時(shí)刻沒(méi)有任何分系統工作;
?、勖總€(gè)分系統對系統失效的影響受其自身工作時(shí)間、工作方式和復雜性等因素的加權的影響;
?、芟到y復雜性歸一化為1，各分系統的復雜性之和就等于系統的復雜性;
?、菹到y失效率是各分系統失效率的加權和。
(6)系統的可靠性指標分配前應乘以(1+ψ)系數(其中ψ=0.02～0.2)后再行分配。其中ψ稱(chēng)為可靠系數。因為分配中有些因素考慮不到，有些因素被忽略，乘以一個(gè)大于1的系數后，可以使系統的可靠性指標更有保證。
(7)目前各種書(shū)中介紹的可靠性分配方法比較多。即使是同一種分配方法也有多種名稱(chēng)。經(jīng)過(guò)查閱較多資料，對比分析，歸結起來(lái)，其基本方法無(wú)非是從失效率相對比較、重要度或復雜性等方面考慮。
因此，在選用分配方法時(shí)，一定要緊緊地結合工作實(shí)際，特別要注意根據自己手中掌握的數據和資料，從方法的適用性、簡(jiǎn)便性、經(jīng)濟性及與工程實(shí)際的一致性方面去考慮，選擇好的方法。
Hast試驗箱可靠性分配工作要進(jìn)行多次，不能一勞永逸，這一點(diǎn)要特別注意。
